J R Vig[16]于1986 年提出了紫外線-臭氧清洗技術(shù)(UV/O3)。通過實驗測得波長為253.7nm 和184.9nm 的紫外光,這兩種波長的光子可以直接打開和切斷有機物分子中的共價鍵,使有機物分子活化,分解成離子、游離態(tài)原子、受激分子等。與此同時, 184.9nm 波長紫外光的光子能將空氣中的氧氣(O2)分解成臭氧(O3);而253.7nm波長的紫外光的光子能將O3分解成O2和活性氧(O),這個光敏氧化反應(yīng)過程是連續(xù)進行的,在這兩種短波紫外光的照射下,臭氧會不斷的生成和分解,活性氧原子就會不斷的生成,而且越來越多,由于活性氧原子(O)有強烈的氧化作用,與活化了的有機物-碳氫化合物等分子發(fā)生氧化反應(yīng),生成揮發(fā)性氣體,如:CO2,CO,H2O,NO 等,逸出物體表面,從而徹底清除了粘附在物體表面上的有機污染物。
UV/O3清洗技術(shù)可以有效的去除硅片表面的有機雜質(zhì),對硅片表面無損害,可以改善硅片表面氧化層的質(zhì)量,但是對無機和金屬雜質(zhì)的清除效果不理想。采用相同的原理,WJ Lee 和HT Jeon[17]利用UV/O3清洗過程中加入了HF,不僅除去了有機雜質(zhì)而且對無機和金屬雜質(zhì)也有很好的清除效果。
束流清洗是指在電場力的作用下,霧化的導(dǎo)電化學清洗劑通過毛細管形成細小的束流狀,高速沖擊在硅片表面上,使得雜質(zhì)與硅原子之間的范德瓦爾斯鍵斷裂,雜質(zhì)脫離硅片表面,實現(xiàn)硅片清潔。J F Mahoney[20]等人于1998 年提出了微集射束流清洗技術(shù),將超高速的物質(zhì)或能量流直接作用于硅片表面的雜質(zhì),使得雜質(zhì)與硅原子之間的范德瓦爾斯鍵斷裂,雜質(zhì)脫離硅片表面。在此理論的基礎(chǔ)上,超聲波束流清洗技術(shù)得到了空前的發(fā)展。